Кафедра Метрології та технічної експертизи
м. Харків, пр. Науки, 14, корпус “Z”, 5-ий поверх, т. (057)702-13-31, E-mail: d_mme@nure.ua
Запрошуємо взяти участь
у 7-й Міжнародній науково-технічній конференції

“Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи” (МІВТС-2020)

Конференція відбудеться 18-19 лютого 2020 г. в ХНУРЕ
Приблизне коло питань, що будуть обговорюватися:
  • Теоретичні основи метрології;
  • Основні принципи забезпечення простежуваності вимірювань;
  • Інформаційно-вимірювальні та керуючі системи;
  • Сучасні вимірювальні технології;
  • Забезпечення якості;
  • Навчання у галузі метрології, стандартизації, сертифікації, забезпечення якості.
Для участі в конференції пропонується до 18 січня 2020 р. направити заявку та тези доповідей українською, російською, або англійською мовами обсягом 1-2 стор. (див. правила оформлення тез), яким буде присвоєно індекс DOI. Тексти тез разом з відомостями про авторів необхідно надіслати в електронному вигляді на адресу newzip@ukr.net. Вартість опублікування тез – 50 грн./стор. Найактуальніші доповіді з числа представлених на конференції будуть опубліковані в найближчих номерах науково-технічного журналу «Український метрологічний журнал», який включено до “Переліку наукових фахових видань України (категорія А)”, наукометричну базу даних Web of Science.
Контактная информация: Захаров Игорь Петрович, e-mail: newzip@ukr.net
тел.: +38-057-7512584, +38-067-5783981.
Інформаційний лист Заявка
Kindly invite you to participate
in the 7th International scientific and technical conference

“Metrology, Information-Measuring Technologies and Systems” (MIMTS-2020)

The conference will be held on February 18-19, 2020, on the basis of Kharkiv National University of Radio Electronics
The approximate range of issues that will be discussed:
  • Theoretical foundations of metrology;
  • Basic principles of measurement traceability assurance;
  • Information-measuring and control systems;
  • Modern measuring technologies;
  • Quality assurance;
  • Training in the field of metrology, standardization, certification, quality assurance.
Participants of the conference are invited to submit the application form and abstracts (1-2 full pages) in accordance with the attached rules by 18.01.2018 to e-mail: newzip@ukr.net. The DOI index will be assigned to the abstracts.
The most relevant reports will be subsequently published in the next issues of journal “Ukrainian Metrological Journal” (Web of Science Core Collection).
Contact information: prof. Igor P. Zakharov, e-mail: newzip@ukr.net
тел.: +380577512584, +380675783981.
Information announcement Application Form
Приглашаем принять участие
в 7-й Международной научно-технической конференции

“Метрология, информационно-измерительные технологии и системы” (МИИТС-2020)

Конференция состоится 18-19 февраля 2020 г. в ХНУРЭ
Примерный круг обсуждаемых вопросов:
  • Теоретические основы метрологии;
  • Основные принципы обеспечения прослеживаемости измерений;
  • Информационно-измерительные и управляющие системы;
  • Современные измерительные технологии;
  • Обеспечение качества;
  • Обучение в области метрологии, стандартизации, сертификации, обеспечения качества.
Для участия в конференции предлагается до 18 января 2020 г. направить заявку и тезисы докладов на русском, украинском или английском языкахобъемом 1-2 стр. (см. информационное письмо), которым будет присвоен индекс DOI. Стоимость опубликования тезисов – 50 грн/стр. Наиболее актуальные доклады из числа представленных на конференции будут опубликованы в ближайших номерах научно-технического журнала “Ukrainian Metrological Journal”, который включен в “Перечень научных профессиональных изданий Украины (категория А)”, наукометрическую базу данных (Web of Science Core Collection).
Контактная информация Захаров Игорь Петрович, e-mail: newzip@ukr.net
тел.: +38-057-7512584, +38-067-5783981.
Информационное письмо Заявка