запрошують Вас взяти участь у 8-й Міжнародній науково-технічній конференції
«Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи» (МІВТС-2021)
Конференція буде проходити 20-21 травня 2021 р. на базі
Харківського національного університету радіоелектроніки
Приблизне коло питань, які будуть обговорюватися на конференції:Тези доповідей російською, українською або англійською мовами обсягом 1–2 стор. (див. правила оформлення тез) будуть видані до початку конференції. Вартість опублікування тез – 50 грн/стор.
Розширені версії найбільш актуальних доповідей, які пройдуть рецензування та відповідатимуть тематиці й вимогам науково-технічного видання «Український метрологічний журнал» / «Ukrainian Metrological Journal» ( включено до Переліку наукових фахових видань України у категорії «А» і цитується наукометричною базою даних Web of Science), будуть опубліковані у вигляді статей англійською мовою в УМЖ № 2/2021. Загальний обсяг однієї статті 4 стор. формата А4 відповідно до наданого шаблону (див. шаблон + зразок оформлення статті англ. мовою). Вартість публікації статті 350 грн. (оплата публікації після повідомлення про схвалення статті до друку).
Тези доповідей разом зі статтями англійською мовою, а також необхідними для публікації матеріалами (картка автора(ів) та згода на відкриту публікацію – див. зразки оформлення; укр. або рос. переклад статті; рецензія від закладу) необхідно надіслати до 20 квітня 2021 р. в електронному вигляді на адресу mimts@ukr.net.
Робочі мови конференції: українська, російська, англійська.
Наша адреса: 61166, м. Харків, пр. Науки, 14, ХНУРЕ. Проїзд до ст. метро «Наукова».
Шаблони та зразки оформлення:
Шаблон оформлення тез доповіді
The article's formalization_example - Зразок оформлення англомовної статті по шаблону в «Український метрологічний журнал»
Правила оформления тезисов докладов конференции МИИТС-2021
Контактна інформація:
професор Захаров Ігор Петрович,
тел.: +38-067-5783981,
E-mail: newzip@ukr.net.
МИНУЛЕ Фото та відео: 18-19 лютого 2020 р. 7-ма Міжнародна науково-технічна конференція “Метрологія, інформаційно-вимірювальні технології та системи” (МІВТС-2020)